• Уточнить данные

Айдиэс, ООО

ОБЩЕСТВО С ОГРАНИЧЕННОЙ ОТВЕТСТВЕННОСТЬЮ "АЙДИЭС"
На рынке более 15 лет
ИНН 7715701078
КПП 772601001
Разработка компьютерного программного обеспечения
еще 12 видов деятельности
Козлов Игорь Олегович
Конкурсный управляющий
еще 37 компаний
На рынке более 15 лет
ИНН 7715701078
КПП 772601001
г. Москва, муниципальный округ Донской вн.тер.г., Варшавское ш., д. 1А, ЭТ 3 КОМ 50 ОФ А2Н
Выручка
Выручка
Прибыль
Прибыль
Стоимость
Стоимость
36.5 млн ₽
Выручка
36.5 млн ₽
Владельцы
Уставный капитал
10 тыс ₽
Связанные лица
Еще 73 компании
Суды
Истец#
Проиграл
33%
Прочие
67%
Ответчик#
Выиграл
50%
Проиграл
50%
Прибыль
-6.3 млн ₽
Рентабельность продаж -19.3%
Рентабельность капитала -68.6%
Надежность
Компания признана банкротом
Торги и госконтракты
Участник
2
#.# млн ₽
Выиграл
2
#.# млн ₽
Госконтракты
2
#.# млн ₽
Основной заказчик:
Национальный Исследовательский Университет "Высшая Школа Экономики", НИУ "Высшая Школа Экономики", Высшая Школа Экономики, НИУ ВШЭ, ВШЭ
Стоимость
17.4 млн ₽
Краткая справка

Айдиэс, ООО зарегистрирована по адресу 117105, г. Москва, муниципальный округ Донской вн.тер.г., Варшавское ш., д. 1А, ЭТ 3 КОМ 50 ОФ А2Н. Конкурсный управляющий организации ОБЩЕСТВО С ОГРАНИЧЕННОЙ ОТВЕТСТВЕННОСТЬЮ "АЙДИЭС" Козлов Игорь Олегович. Основным видом деятельности компании является Разработка компьютерного программного обеспечения. Также Айдиэс, ООО работает еще по 12 направлениям. Размер уставного капитала 10 000 руб. 

Компания Айдиэс, ООО принимала участие в 2 торгах из них выиграла 2. Основным заказчиком является Национальный Исследовательский Университет "Высшая Школа Экономики", НИУ "Высшая Школа Экономики", Высшая Школа Экономики, НИУ ВШЭ, ВШЭ. В судах организация выиграла 50% в качестве ответчика, проиграла 33% процессов в качестве истца и 50% в качестве ответчика. 

ОБЩЕСТВО С ОГРАНИЧЕННОЙ ОТВЕТСТВЕННОСТЬЮ "АЙДИЭС" присвоен ИНН 7715701078КПП 772601001ОГРН 1087746623909ОКПО 86432275

Действует с 12.05.2008
Используя официальный сайт sbis.ru, вы даете согласие на работу с cookie и Яндекс.Метрикой для сбора технических данных. Подробнее