• Уточнить данные

Ваш Облик, ООО

ОБЩЕСТВО С ОГРАНИЧЕННОЙ ОТВЕТСТВЕННОСТЬЮ "ВАШ ОБЛИК"
На рынке более 32 лет
ИНН 7718011192
КПП 771801001
Предоставление услуг парикмахерскими и салонами красоты
Церетели Елена Валерьевна
Генеральный директор
Сотрудников:4 человека
На рынке более 32 лет
ИНН 7718011192
КПП 771801001
г. Москва, Щёлковское ш., д. 87, к. 1
еще 1 компания зарегистрирована по этому адресу
Выручка
Выручка
Прибыль
Прибыль
Стоимость
Стоимость
3.1 млн ₽
Выручка
3.1 млн ₽
1014 место в категории Парикмахерские, салоны красоты
Владельцы
Церетели Елена Валерьевна
1.6 тыс ₽
100%
Уставный капитал
1.6 тыс ₽
Суды
Истец#
Проиграл
100%
Нет данных об участии в качестве ответчика
Прибыль
1.6 млн ₽
Рентабельность продаж 54.2%
Рентабельность капитала 26.1%
Надежность
Показатели надежности компании доступны на Saby Profile
Торги и госконтракты
Нет данных об участии в торгах и заключенных госконтрактах
Стоимость
8.1 млн ₽
307 место в категории Парикмахерские, салоны красоты
Похожие по объему выручки
В отрасли (1014 место)тыс ₽
1012
1013
1014
1015
1016
3 050
(Самодуров П. Г.)
3 044
Ваш Облик, ООО
(Церетели Е. В.)
3 040
(Емельянова З. А.)
3 034
(Горелик В. М.)
Похожие по стоимости бизнеса
В отрасли (307 место)тыс ₽
305
306
307
308
309
8 222
(Кошевая М. А.)
8 198
(Старшинова К. А.)
8 135
Ваш Облик, ООО
(Церетели Е. В.)
8 072
(Языков В. В.)
8 069
(Северилова О. Н.)
Краткая справка

Ваш Облик, ООО зарегистрирована по адресу 107497, г. Москва, Щёлковское ш., д. 87, к. 1. Генеральный директор организации ОБЩЕСТВО С ОГРАНИЧЕННОЙ ОТВЕТСТВЕННОСТЬЮ "ВАШ ОБЛИК" Церетели Елена Валерьевна. Основным видом деятельности компании является Предоставление услуг парикмахерскими и салонами красоты. Размер уставного капитала 1575 руб. 

В судах организация проиграла 100% процессов в качестве истца 

ОБЩЕСТВО С ОГРАНИЧЕННОЙ ОТВЕТСТВЕННОСТЬЮ "ВАШ ОБЛИК" присвоен ИНН 7718011192КПП 771801001ОГРН 1037739020219ОКПО 17370103

Действует с 19.03.1992
Используя официальный сайт sbis.ru, вы даете согласие на работу с cookie и Яндекс.Метрикой для сбора технических данных. Подробнее